第二篇 超声检测技术
第一章 超声检测通用技术I级考试大纲
1. 无损检测概论（见第一篇第一章）
2. 超声检测的物理基础
2.1 振动与波动
2.1.1 振动的一般概念（A）
2.1.2 机械波的产生与传播（A）
2.1.3 波长、频率和波速（A）
2.1.4 次声波、声波和超声波（B）
2.1.5 波的类型
a. 纵波、横波（A）
b. 表面波（B）
c. 平面波、柱面波、球面波（C）
2.2 超声波
2.2.1 超声波声速
a. 固体介质中的声速（A）
b. 液体介质、气体介质的声速（A）
c. 影响声速的因素（C）
d. 声速的测量（B）
2.2.2 超声场的特征值（概念）
a. 声压（A）
b. 声强（A）
c. 声阻抗（A）
d. 分贝（A）
2.2.3 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（A）
2.3 超声波的特性
2.3.1 超声波垂直入射（不涉及反射率和透射率的计算）
a. 单一平面的反射与透射（A）
b. 薄层介面的反射与透射（B）
2.3.2 超声波倾斜入射
a. 波型转换与反射、折射及第一、第二、第三临界角（A）
b. 声压反射率（B）
c. 端角反射（B）
2.4 超声波的衰减
a. 扩散衰减（B）
b. 散射衰减（B）
c. 吸收衰减（B）
2.5 声场与规则反射体的回波声压
2.5.1 园盘波源辐射的纵波声场
a. 波源轴线上的声压分布（C）
b. 波指向性和半扩散角（A）
c. 波未扩散区与扩散区（B）
d. 近场区在两种介质中的应用（B）
2.5.2 规则反射体的回波声压
a. 平底孔回波声压（B）
b. 大平底面回波声压（B）
c. 长横孔回波声压（B）
2.5.3 各类规则反射体回波声压之间的关系
a. 平底孔与大平底（B）
3. 超声仪器、探头和试块
3.1 超声波仪器
3.1.1 超声波检测仪概述
a. 仪器的作用（A）
b. 仪器的分类（B）
3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理
a. 仪器电路的方框图（B）
b. 仪器主要组成部分的作用（B）
c. 仪器主要功能键的作用及其调整（A）
d. 仪器的维护（A）
3.1.3 数字智能检测仪
a. 数字智能检测仪的特点（B）
b. 数字智能检测仪的发展（C）
3.2 超声波探头
3.2.1 晶片
a. 压电效应（A）
b. 压电材料的主要性能参数（C）
3.2.2 探头的种类和结构
a. 直探头（A）
b. 斜探头（B）
c. 双晶探头（C）
d. 聚集探头（C）
3.3 试块
3.3.1 试块的作用
a. 确定检测系统的灵敏度（B）
b. 测试仪器和探头的性能（B）
c. 评判缺陷在工件中的位置（B）
d. 评判缺陷的当量大小（B）
3.3.2 试块的分类
a. 标准试块（A）
b. 对比试块
3.3.3 试块的要求和维护
a. 标准试块与对比试块的要求（A）
b. 试块使用与维护（A）
3.4 仪器和探头的性能及其测试
3.4.1 仪器的性能及其测试
a. 垂直线性及其测试（A）
b. 水平线性及其测试（A）
c. 动态范围及其测试（B）
d. 衰减器精度及其测试（B）
3.4.2 探头的性能及其测试
a. 斜探头的入射点（A）
b. 斜探头的K值和折射角（A）
c. 探头主声束偏离与双峰（B）
3.4.3 仪器和探头的综合性能及其测试
a. 灵敏度（A）
b. 盲区与始脉冲宽度（B）
c. 分辨率（B）
d. 信噪比（B）
4. 超声检测方法
4.1 超声检测方法概述
4.1.1 按原理分类
a. 脉冲反射法（A）
b. 穿透法（B）
4.1.2 按波形分类
a. 纵波法（A）
b. 横波法（A）
c. 表面波法（C）
4.1.3 按探头数目分类]
a. 单探头法（A）
b. 双探头法（B）
c. 多探头法（C）
4.1.4 按探头接触方式分类
a. 直接接触法（A）
b. 液浸法（B）
4.1.5 按显示方式分类
a. A型显示（A）
b. B型显示（B）
c. C型显示（C）
4.2 仪器与探头的选择
4.2.1 仪器的选择（B）
4.2.2 探头的选择
a. 探头形式（C）
b. 探头频率（B）
c. 晶片尺寸（B）
d. 斜探头K值（B）
4.3 耦合与补偿
4.3.1 耦合剂
a. 常用耦合剂的要求（A）
b. 影响声耦合的主要因素（B）
4.3.2 表面耦合损耗的测定和补偿
a. 耦合损耗的测定（C）
b. 补偿方法（B）
4.4 超声仪的调节
4.4.1 扫描速度的调节
a. 纵波扫描速度的调节（A）
b. 横波扫描速度的调节（A）
4.4.2 灵敏度的调节
a. 试块调整法（A）
b. 工件底波调整法（A）
4.5 缺陷位置大小的测定
4.5.1 缺陷位置的测定
a. 直探头检测（A）
b. 横波平面检测（B）
c. 横波曲面检测（C）
4.5.2 缺陷大小的测定
a. 当量法（B）
b. 测长法（B）
c. 底波高度法（B）
4.6 影响缺陷定位、定量的主要因素
4.6.1影响缺陷定位的主要因素
a. 仪器的影响（B）
b. 探头的影响（B）
c. 工件几何形状和尺寸的影响（B）
d. 操作人员的影响（B）
e. 缺陷形状、取向和性质的影响（B）
4.6.2 影响缺陷定量的主要因素
a. 仪器及探头性能的因素（B）
b. 耦合与衰减的影响（B）
c. 工件几何形状和尺寸的影响（B）
d. 缺陷的影响（B）
e. 操作人员的影响（B）
4.7非缺陷回波的判别（B）
5.超声检测技术应用及标准
5.1 检测条件准备
5.1.1 文件
a. 工艺卡的作用和主要内容 （A）
b. 检验规程的检测过程 （A）
5.1.2 检测设备
a. 检测设备及系统的构成 （C）
b. 系统校准及检测中的校验（B）
5.1.3 被检件
a. 检测区域及表面备制 （C）
b. 检测区域表面的目视检验 （B）
5.2 超声检测技术应用
5.2.1 焊缝超声波检测
a. 焊缝中的常见缺陷（A）
b. 探测条件的选择（C）
c. 扫描速度的调节（B）
d. 距离—波幅曲线的绘制（A）
e. 扫查方式（C）
f. 缺陷位置、大小的测定（A）
5.2.2 锻件检测
a. 锻件中的常见缺陷（B）
b. 检测方法概述（C）
c. 探测条件的选择（C）
d. 扫描速度和灵敏度调节（B）
e. 缺陷大小和位置的测定（B）
5.2.3 铸件检测
a. 铸件中的常见缺陷（B）
b. 铸件检测的特点（C）
c. 探测条件的选择（C）
d. 距离—波幅曲线的绘制和灵敏度的调节（C）
e. 缺陷的判别与测定（C）
5.2.4 板材检测
a. 板材常见缺陷（A）
b. 检测方法（B）
c. 探头与扫查方式选择（C）
d. 探测范围和灵敏度调整（B）
e. 缺陷的判别与测定（A）
5.2.5 管材检测
a. 管材中的常见缺陷（B）
b. 检测方法（C）
c. 探测参数和探测条件的选择（C）
d. 灵敏度调整（C）
e. 缺陷大小和位置的测定（C）
5.3 JB4730标准：总则和超声检测
5.3.1 一般要求
a. 检测范围（A）
b. 检测人员（C）
c. 检测仪器探头性能（B）
d. 检测一般方法（C）
e. 校准（B）
f. 缺陷记录（A）
5.3.2 超声检测
a. 板材检测（A）
b. 焊缝检测（A）
c. 厚度测量（C）