无损探伤工(初级)理论知识鉴定要素细目表
| 
 行为领域  | 
 鉴定范围  | 
 鉴定点  | 
 重要程度  | |||
| 
 代码  | 
 名称  | 
 鉴定比重  | 
 代码  | 
 名称  | ||
| 
 基础知识A 20%  | 
 A  | 
 道德 (01:00:00)  | 
 1%  | 
 001  | 
 道德与职业道德  | 
 X  | 
| 
 B  | 
 无损检测概论 (06:00:00)  | 
 19%  | 
 001  | 
 无损检测的定义  | 
 X  | |
| 
 002  | 
 无损检测方法的分类  | 
 X  | ||||
| 
 003  | 
 无损检测的目的  | 
 X  | ||||
| 
 004  | 
 无损检测的应用特点  | 
 X  | ||||
| 
 005  | 
 缺陷的种类  | 
 X  | ||||
| 
 006  | 
 缺陷产生的原因  | 
 X  | ||||
| 
 专业知识B 80%  | 
 A  | 
 超声波探伤  | 
 30%  | 
 001  | 
 超声波检测技术的特点  | 
 X  | 
| 
 002  | 
 周期与频率  | 
 X  | ||||
| 
 003  | 
 振动与波动的关系  | 
 X  | ||||
| 
 004  | 
 纵波的定义  | 
 X  | ||||
| 
 005<, , , , , , , /SPAN>  | 
 横波的定义  | 
 X  | ||||
| 
 006  | 
 表面波的定义  | 
 X  | ||||
| 
 007  | 
 板波的定义  | 
 X  | ||||
| 
 008  | 
 平面波的定义  | 
 X  | ||||
| 
 009  | 
 球面波与柱面波  | 
 X  | ||||
| 
 010  | 
 波前的定义  | 
 X  | ||||
| 
 011  | 
 波阵面的定义  | 
 X  | ||||
| 
 012  | 
 波线的定义  | 
 X  | ||||
| 
 013  | 
 波的叠加原理  | 
 X  | ||||
| 
 014  | 
 干涉波  | 
 X  | ||||
| 
 015  | 
 驻波的定义  | 
 X  | ||||
| 
 016  | 
 惠更斯原理  | 
 X  | ||||
| 
 017  | 
 波的衍射  | 
 X  | ||||
| 
 018  | 
 声强级的定义  | 
 X  | ||||
| 
 019  | 
 声场特征量  | 
 X  | ||||
| 
 020  | 
 分贝的定义  | 
 X  | ||||
| 
 021  | 
 声速的定义  | 
 X  | ||||
| 
 022  | 
 反射、折射定律  | 
 X  | ||||
| 
 023  | 
 临界角  | 
 X  | ||||
| 
 024  | 
 声压反射率与透射率  | 
 X  | ||||
| 
 025  | 
 波在曲界面上的反射  | 
 X  | ||||
| 
 026  | 
 波长的定义  | 
 X  | ||||
| 
 027  | 
 衰减  | 
 X  | ||||
| 
 专业知识B 80%  | 
 A  | 
 超声波探伤  | 
 30%  | 
 028  | 
 近场区  | 
 X  | 
| 
 029  | 
 声速指向性  | 
 X  | ||||
| 
 030  | 
 规则反射体  | 
 X  | ||||
| 
 031  | 
 半波透声层  | 
 X  | ||||
| 
 032  | 
 超声波的传播  | 
 X  | ||||
| 
 033  | 
 A型脉冲反射超声波探伤仪知识  | 
 X  | ||||
| 
 034  | 
 超声波探头  | 
 X  | ||||
| 
 035  | 
 压电效应  | 
 X  | ||||
| 
 036  | 
 超声波试块  | 
 X  | ||||
| 
 037  | 
 水平线性  | 
 X  | ||||
| 
 038  | 
 垂直线性  | 
 X  | ||||
| 
 039  | 
 动态范围  | 
 X  | ||||
| 
 040  | 
 分辨率  | 
 X  | ||||
| 
 041  | 
 灵敏度余量  | 
 X  | ||||
| 
 042  | 
 盲区  | 
 X  | ||||
| 
 043  | 
 重复频率  | 
 X  | ||||
| 
 044  | 
 压电参数  | 
 X  | ||||
| 
 045  | 
 超声波探伤方法  | 
 X  | ||||
| 
 046  | 
 探伤灵敏度  | 
 X  | ||||
| 
 047  | 
 衰减器  | 
 X  | ||||
| 
 048  | 
 共振  | 
 X  | ||||
| 
 049  | 
 耦合与补偿  | 
 X  | ||||
| 
 050  | 
 仪器调校  | 
 X  | ||||
| 
 051  | 
 粗晶材料检测  | 
 X  | ||||
| 
 052  | 
 探伤面  | 
 X  | ||||
| 
 053  | 
 波型转换  | 
 X  | ||||
| 
 054  | 
 参考反射体  | 
 X  | ||||
| 
 055  | 
 缺陷定量的方法  | 
 X  | ||||
| 
 056  | 
 锻件的超声波检测  | 
 X  | ||||
| 
 B  | 
 射线探伤  | 
 30%  | 
 001  | 
 射线检测基本方法  | 
 X  | |
| 
 002  | 
 射线在探伤中的应用  | 
 X  | ||||
| 
 003  | 
 原子核  | 
 X  | ||||
| 
 004  | 
 射线探伤的原理  | 
 X  | ||||
| 
 005  | 
 同位素  | 
 X  | ||||
| 
 006  | 
 半衰期的定义  | 
 X  | ||||
| 
 007  | 
 电磁波与波长的关系  | 
 X  | ||||
| 
 008  | 
 光子能量与频率的关系  | 
 X  | ||||
| 
 009  | 
 定影液的作用  | 
 X  | 
| 
 专业知识B  | 
 B  | 
 射线探伤  | 
 30%  | 
 010  | 
 原子序数  | 
 X  | 
| 
 011  | 
 吸收剂量  | 
 X  | ||||
| 
 012  | 
 连续X射线光谱  | 
 X  | ||||
| 
 013  | 
 中子射线  | 
 X  | ||||
| 
 014  | 
 α射线  | 
 X  | ||||
| 
 015  | 
 X射线的总强度  | 
 X  | ||||
| 
 016  | 
 γ射线  | 
 X  | ||||
| 
 017  | 
 光电效应的定义  | 
 X  | ||||
| 
 018  | 
 康普顿效应的定义  | 
 X  | ||||
| 
 019  | 
 衰减规律  | 
 X  | ||||
| 
 020  | 
 射线的衰减  | 
 X  | ||||
| 
 021  | 
 X射线管管电压  | 
 X  | ||||
| 
 022  | 
 散射比  | 
 X  | ||||
| 
 023  | 
 X、γ射线的性质  | 
 X  | ||||
| 
 024  | 
 宽束与窄束射线的关系  | 
 X  | ||||
| 
 025  | 
 X光机额定管电压  | 
 X  | ||||
| 
 026  | 
 底片清晰度  | 
 X  | ||||
| 
 027  | 
 通透时间  | 
 X  | ||||
| 
 028  | 
 黑度范围  | 
 X  | ||||
| 
 029  | 
 胶片特性及反差系数  | 
 X  | ||||
| 
 030  | 
 增感屏  | 
 X  | ||||
| 
 031  | 
 像质计  | 
 X  | ||||
| 
 032  | 
 曝光时间  | 
 X  | ||||
| 
 033  | 
 观片灯的要求  | 
 X  | ||||
| 
 034  | 
 定影配方  | 
 X  | ||||
| 
 035  | 
 射线照相灵敏度  | 
 X  | ||||
| 
 036  | 
 散射线屏蔽  | 
 X  | ||||
| 
 037  | 
 γ射线的能量单位  | 
 X  | ||||
| 
 038  | 
 气孔  | 
 X  | ||||
| 
 039  | 
 实际焦点  | 
 X  | ||||
| 
 040  | 
 散射对底片的影响  | 
 X  | ||||
| 
 041  | 
 韧致辐射  | 
 X  | ||||
| 
 042  | 
 夹渣  | 
 X  | ||||
| 
 043  | 
 X射线探伤的优点  | 
 X  | ||||
| 
 044  | 
 几何不清晰度  | 
 X  | ||||
| 
 045  | 
 胶片对比度  | 
 X  | ||||
| 
 046  | 
 X射线机冷却的方式  | 
 X  | ||||
| 
 047  | 
 透照长度  | 
 X  | 
| 
 专业知识B  | 
 B  | 
 射线探伤  | 
 30%  | 
 048  | 
 射线管的真空度  | 
 X  | 
| 
 049  | 
 X光管阳极靶  | 
 X  | ||||
| 
 050  | 
 焦点形状  | 
 X  | ||||
| 
 051  | 
 曝光曲线  | 
 X  | ||||
| 
 052  | 
 射线穿透力  | 
 X  | ||||
| 
 053  | 
 射线检测  | 
 X  | ||||
| 
 054  | 
 射线机结构  | 
 X  | ||||
| 
 055  | 
 γ射线照相  | 
 X  | ||||
| 
 056  | 
 高速电子  | 
 X  | ||||
| 
 057  | 
 射线照相法  | 
 X  | ||||
| 
 058  | 
 焦距  | 
 X  | ||||
| 
 059  | 
 底片影像  | 
 X  | ||||
| 
 060  | 
 防护知识  | 
 X  | ||||
| 
 C  | 
 磁粉探伤  | 
 10%  | 
 001  | 
 磁粉探伤的特点  | 
 X  | |
| 
 002  | 
 磁感应强度  | 
 X  | ||||
| 
 003  | 
 磁粉探伤的对象  | 
 X  | ||||
| 
 004  | 
 漏磁  | 
 X  | ||||
| 
 005  | 
 磁化电流  | 
 X  | ||||
| 
 006  | 
 磁化曲线  | 
 X  | ||||
| 
 007  | 
 退磁  | 
 X  | ||||
| 
 008  | 
 工件磁化  | 
 X  | ||||
| 
 009  | 
 磁极  | 
 X  | ||||
| 
 010  | 
 磁场  | 
 X  | ||||
| 
 011  | 
 磁粉探伤操作  | 
 X  | ||||
| 
 012  | 
 磁悬液  | 
 X  | ||||
| 
 013  | 
 磁粉  | 
 X  | ||||
| 
 014  | 
 磁导率  | 
 X  | ||||
| 
 015  | 
 温度对磁粉探伤的影响  | 
 X  | ||||
| 
 016  | 
 磁力线  | 
 X  | ||||
| 
 017  | 
 矫顽力  | 
 X  | ||||
| 
 018  | 
 磁化方法  | 
 X  | ||||
| 
 019  | 
 灵敏度  | 
 X  | ||||
| 
 020  | 
 试片  | 
 X  | ||||
| 
 021  | 
 磁粉探伤的设备与装置  | 
 X  | ||||
| 
 D  | 
 渗透探伤  | 
 10%  | 
 001  | 
 渗透探伤方法  | 
 X  | |
| 
 002  | 
 表面张力  | 
 X  | ||||
| 
 003  | 
 清洗与去除  | 
 X  | ||||
| 
 004  | 
 渗透剂  | 
 X  | ||||
| 
 005  | 
 乳化剂  | 
 X  | ||||
| 
 006  | 
 渗透探伤材料  | 
 X  | ||||
| 
 007  | 
 后乳化渗透探伤  | 
 X  | ||||
| 
 008  | 
 显像剂  | 
 X  | ||||
| 
 009  | 
 试块  | 
 X  | ||||
| 
 010  | 
 渗透探伤操作  | 
 X  | ||||
| 
 011  | 
 影响渗透探伤的因素  | 
 X  | ||||
| 
 012  | 
 荧光渗透探伤  | 
 X  | ||||
| 
 013  | 
 黑光灯  | 
 X  | ||||
| 
 014  | 
 渗透探伤的灵敏度  | 
 X  | ||||
| 
 015  | 
 润湿  | 
 X  | ||||
| 
 016  | 
 探伤材料及探伤器材  | 
 X  | ||||
| 
 017  | 
 温度对探伤的影响  | 
 X  | ||||
| 
 018  | 
 显像  | 
 X  | ||||
| 
 019  | 
 毛细作用  | 
 X  | 
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